-
梅特勒熔點(diǎn)儀MP30
輕松分析.適合進(jìn)行熔點(diǎn)和熔程測(cè)定的儀器,可在高達(dá)300°C的溫度下同時(shí)測(cè)定3份樣品的熔點(diǎn)/熔程
型號(hào): 30578100
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/19 19:24:18
對(duì)比
-
SGW®-650 全自動(dòng)圖像熔點(diǎn)儀
采用高分辨率數(shù)字?jǐn)z像頭,經(jīng)圖像處理分析進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè),并且有回放功能
型號(hào): SGW?-650
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:59:11
對(duì)比
-
SGW®-630 全自動(dòng)圖像熔點(diǎn)儀
采用高分辨率數(shù)字?jǐn)z像頭,經(jīng)圖像處理分析進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè),并且有回放功能
型號(hào): SGW?-630
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:57:14
對(duì)比
-
WRS-3A 熔點(diǎn)儀(目視、自動(dòng))
WRS-3A采用PID(溫度自動(dòng)控制)系統(tǒng),是在原WRS-3熔點(diǎn)儀基礎(chǔ)上,升級(jí)換代產(chǎn)品
型號(hào): WRS-3A
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:55:04
對(duì)比
-
WRS-2C 熔點(diǎn)儀
采用光電自動(dòng)檢測(cè)、彩色液晶觸摸屏顯示
型號(hào): WRS-2C
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:52:54
對(duì)比
-
WRS-1C 熔點(diǎn)儀
采用光電自動(dòng)檢測(cè)、彩色液晶觸摸屏顯示
型號(hào): WRS-1C
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:51:11
對(duì)比
-
WRS-2A 微機(jī)熔點(diǎn)儀
采用光電自動(dòng)檢測(cè),彩色液晶屏顯示,數(shù)字鍵盤(pán)輸入不同型號(hào)儀器可裝樣品一根或者三根毛細(xì)管測(cè)量,自動(dòng)求取熔點(diǎn)的平均值,具有初熔、終熔自動(dòng)顯示,熔化曲線自動(dòng)記錄
型號(hào): WRS-2A
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:49:07
對(duì)比
-
WRS-2 微機(jī)熔點(diǎn)儀
采用光電自動(dòng)檢測(cè),彩色液晶屏顯示,數(shù)字鍵盤(pán)輸入不同型號(hào)儀器可裝樣品一根或者三根毛細(xì)管測(cè)量,自動(dòng)求取熔點(diǎn)的平均值,具有初熔、終熔自動(dòng)顯示,熔化曲線自動(dòng)記錄
型號(hào): WRS-2
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:47:06
對(duì)比
-
WRS-1B 數(shù)字熔點(diǎn)儀
采用光電自動(dòng)檢測(cè),彩色液晶屏顯示,數(shù)字鍵盤(pán)輸入不同型號(hào)儀器可裝樣品一根或者三根毛細(xì)管測(cè)量,自動(dòng)求取熔點(diǎn)的平均值,具有初熔、終熔自動(dòng)顯示,熔化曲線自動(dòng)記錄
型號(hào): WRS-1B
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:45:10
對(duì)比
-
WRR-Y 藥物熔點(diǎn)儀
用目視的方法檢測(cè)樣品的初、終熔點(diǎn),符合國(guó)家藥典的規(guī)定
型號(hào): WRR-Y
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:42:55
對(duì)比
-
WRR 熔點(diǎn)儀(目視)
用目視的方法檢測(cè)樣品的初、終熔點(diǎn),符合國(guó)家藥典的規(guī)定
型號(hào): WRR
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:40:43
對(duì)比
-
WRX-2S 顯微熱分析儀
顯微熱分析儀適用于顯微鏡下研究、測(cè)定被測(cè)物質(zhì)的熱特性,稱(chēng)為T(mén)OA分析(THERMO-OPTICALANALYSIS)
型號(hào): WRX-2S
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:38:15
對(duì)比
-
SGW®X-5 顯微熔點(diǎn)儀
采用PID溫度調(diào)節(jié)技術(shù),準(zhǔn)確控制測(cè)量溫度的變化
型號(hào): SGW?X-5
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:36:29
對(duì)比
-
SGW® X-4B 顯微熔點(diǎn)儀
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)
型號(hào): SGW? X-4B
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:34:32
對(duì)比
-
SGW® X-4A 顯微熔點(diǎn)儀
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)
型號(hào): SGW? X-4A
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:32:19
對(duì)比
-
SGW® X-4 顯微熔點(diǎn)儀
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)
型號(hào): SGW? X-4
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:30:19
對(duì)比
-
WQD-1A 滴點(diǎn)軟化點(diǎn)測(cè)定儀
測(cè)定非晶體高分子化合物的滴點(diǎn)和軟化點(diǎn),以確定其濃密度、聚合度、耐熱度等理化特性,可代替?zhèn)鹘y(tǒng)的烏氏滴點(diǎn)測(cè)定和法軟化點(diǎn)測(cè)定
型號(hào): WQD-1A
所在地:
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2025/11/16 18:28:10
對(duì)比