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?10月22日至24日，第十五屆中國(guó)國(guó)際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)與第六屆中國(guó)MEMS制造大會(huì)在蘇州國(guó)際博覽中心隆重舉行。在這場(chǎng)匯聚全球納米技術(shù)前沿成果的行業(yè)盛會(huì)上，探真納米科技帶著新推出的導(dǎo)電探針及系列探針
前言當(dāng)“科研儀器開(kāi)放共享”的議題與“國(guó)產(chǎn)儀器進(jìn)校園”的需求碰撞，一場(chǎng)聚焦創(chuàng)新與合作的科研盛會(huì)在蘭州大學(xué)落下帷幕。探真納米科技攜自研自產(chǎn)AFM探針亮相“大型科研儀器開(kāi)放共享研討會(huì)暨國(guó)產(chǎn)儀器進(jìn)高校（蘭州大
喜訊！再添專利新名片！近日，淄博探微納米科技有限責(zé)任公司的創(chuàng)新成果——《一種高精度AFM探針貼片對(duì)準(zhǔn)放置裝置》正式獲得國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的實(shí)用新型專利證書(shū)（專利號(hào)：ZL202422554191.8）。
自動(dòng)定位探針是半導(dǎo)體、電子制造及科研領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)高精度電學(xué)測(cè)量的關(guān)鍵設(shè)備，其核心在于通過(guò)視覺(jué)識(shí)別、運(yùn)動(dòng)控制與微力反饋系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)重復(fù)定位與可靠電接觸。然而在高頻使用中，可能會(huì)因探針污染、校準(zhǔn)偏移、機(jī)械
導(dǎo)電探針作為精密電學(xué)測(cè)試的關(guān)鍵媒介，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)、PCB飛針測(cè)試、電池極片接觸及科研微納測(cè)量等領(lǐng)域。其性能高度依賴針尖狀態(tài)、接觸穩(wěn)定性與環(huán)境潔凈度。在實(shí)際使用中，可能會(huì)因污染、磨損或操作不
超柔探針的養(yǎng)護(hù)方式詳解一、日常使用后的即時(shí)維護(hù)-表面清潔流程-每次使用后立即用無(wú)塵棉簽蘸取無(wú)水乙醇(濃度≥99.7%)，以"Z"字形軌跡擦拭探針尖端。對(duì)于粘附頑固污漬的情況，可配合超聲波清洗機(jī)低頻震蕩
導(dǎo)電探針廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體測(cè)試、PCB飛針檢測(cè)、電池極片檢測(cè)及科研微納電學(xué)測(cè)量等領(lǐng)域，其核心功能是在微小接觸點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)低阻抗、高重復(fù)性、無(wú)損傷的電信號(hào)傳輸。導(dǎo)電探針雖小，卻對(duì)安裝精度、清潔度與力學(xué)控制要求
高分辨率應(yīng)用探針是納米科技、半導(dǎo)體檢測(cè)、材料表征及生物成像領(lǐng)域的核心傳感元件，其曲率半徑可達(dá)幾納米甚至原子級(jí)，直接決定成像分辨率與測(cè)量精度。因其結(jié)構(gòu)精密、材質(zhì)脆弱，在使用中易因操作不當(dāng)、環(huán)境干擾或樣品
磁性探針作為精密測(cè)量工具，其準(zhǔn)確度受多重因素影響。以下從多個(gè)維度深入剖析：一、設(shè)計(jì)與制造工藝-線圈結(jié)構(gòu)與材質(zhì)：磁探針的核心是螺線管線圈，其匝數(shù)、直徑及繞制方式直接影響靈敏度。例如，采用耐高溫的鎢絲或漆
邊緣探針是一種專為高密度、微間距電子器件設(shè)計(jì)的精密測(cè)試工具，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝、印刷電路板、柔性電路、芯片級(jí)封裝及先進(jìn)封裝的電性能檢測(cè)中。其核心功能是在不損傷焊盤(pán)或凸點(diǎn)的前提下，精準(zhǔn)接觸器件邊緣或側(cè)
小球探針是一種用于三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、光學(xué)掃描儀或精密輪廓儀上的特殊測(cè)頭，其末端為高精度硬質(zhì)合金或紅寶石球體，廣泛應(yīng)用于曲面、溝槽、倒角及復(fù)雜幾何特征的接觸式測(cè)量。憑借其球形接觸點(diǎn)可多向采樣的優(yōu)勢(shì)，在模具、
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