DENSOKU電測膜厚計高靈敏度輕量化設(shè)計

DENSOKU電測膜厚計高靈敏度輕量化設(shè)計

自1952年成立以來，DENSOKU通過廣泛的薄膜厚度測量設(shè)備陣容，為日本表面處理行業(yè)做出了貢獻(xiàn)，包括作為標(biāo)準(zhǔn)測量儀器的薄膜厚度計，這些測量儀器在通產(chǎn)省的JIS標(biāo)準(zhǔn)制定中作為標(biāo)準(zhǔn)測量儀器，并在行業(yè)中開發(fā)電解薄膜厚度計。我們的目標(biāo)是建立一個能夠為社會做出貢獻(xiàn)的公司，并創(chuàng)造人類。我們不斷努力提高自己的能力和人性，為員工創(chuàng)造幸福和公司發(fā)展。以更高的技術(shù)為目標(biāo)，提供更上等的產(chǎn)品，為“客戶滿意度"服務(wù)。建立客戶和業(yè)務(wù)合作伙伴信任的公司，并持續(xù)盈利。

DENSOKU/電測的產(chǎn)品分類：
1、多點(diǎn)同步測量渦流膜厚計
2、熒光X射線膜厚度計
3、電解膜厚度計
4、渦流膜厚度計
5、電阻式膜厚計
6、便攜式薄膜厚度計

日本電測DENSOKU熒光X射線鍍膜測厚儀EX-851多校準(zhǔn)曲線
日本DENSOKU熒光涂層測厚儀EX-731自動測量臺
日本電測DENSOKU熒光X射線式膜厚計COSMOS-3X
日本電測DENSOKU電解膜測厚儀 GCT-311全功能PC規(guī)范
DENSOKU電測進(jìn)口電解膜測厚儀CT-6提高電流精度
日本電測儀器densoku電解式膜厚計/厚度儀/測量裝置CT-3
DENSOKU電測渦流測厚儀DMC-211配備自動拍攝模式
日本DENSOKU電測渦流測厚儀高精度晶體振蕩系統(tǒng)DS-110
電測DENSOKU電阻式涂層測厚儀0.7 秒內(nèi)測量RST-231
電測DENSOKU便攜式涂層測厚儀QNIx系列無需薄膜校準(zhǔn)

產(chǎn)品特點(diǎn)

高精度測量：采用高精度恒流源，確保測量精度可達(dá)±1%，分辨率高達(dá)0.001μm。

多層鍍層分析：支持*多5層鍍層的測量條件設(shè)定，包括多層鎳鍍層的電位差分析。

智能化操作：在微軟視窗下作業(yè)，數(shù)據(jù)處理及機(jī)能性更加多樣。軟件具有電位圖顯示功能，可設(shè)定上下限值，超差時紅色警示并伴有蜂鳴報警。

數(shù)據(jù)處理與管理：可對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計處理，包括平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等，并可導(dǎo)出或打印數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行質(zhì)量控制和報告生成。

非破壞式校準(zhǔn)：具備非破壞式校準(zhǔn)功能，可制作標(biāo)準(zhǔn)板用于校準(zhǔn)其他測厚儀，確保測量精度的長期穩(wěn)定。

適應(yīng)性強(qiáng)：適用于多種金屬基材（如銅、鋁、鋼等）及鍍層（如金、銀、鎳、鉻等），并能自動識別適用的電解液類型。

應(yīng)用場景

廣泛應(yīng)用于電鍍、陽極氧化、表面處理等行業(yè)的質(zhì)量控制及實驗室分析。它適用于多種行業(yè)，如電子元器件、五金件與緊固件、汽車零部件、珠寶與裝飾品等。

技術(shù)參數(shù)

測量范圍：0.006~300μm

*小分解能：0.001μm

本體精度：±1%

測量單位：μm, mm, mil, MI

測量面積：

A型測頭：3.4mmΦ

B型測頭：2.5mmΦ

C型測頭：1.8mmΦ

電源：AC100V

本體尺寸：W265×D215×H138mm

重量：4.5kg