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涂層石墨管的涂層厚度沒有絕對統(tǒng)一值,但在原子吸收光譜分析(AAS)領(lǐng)域有非常明確的行業(yè)常規(guī)范圍,不同涂層材料、應(yīng)用場景的厚度差異顯著,以下是主流涂層類型的典型厚度及相關(guān)說明:一、主流涂層的常規(guī)厚度范圍
光譜儀中心管是原子發(fā)射光譜儀(如電感耦合等離子體光譜儀,ICP-OES)中的關(guān)鍵部件之一,主要位于等離子體炬管的中心位置,承擔著樣品氣溶膠輸送的重要功能。中心管通常由高純度石英或耐高溫陶瓷材料制成,具
光譜儀中心管是原子發(fā)射光譜儀(如電感耦合等離子體光譜儀,ICP-OES)中的關(guān)鍵部件之一,主要位于等離子體炬管的中心位置,承擔著樣品氣溶膠輸送的重要功能。中心管通常由高純度石英或耐高溫陶瓷材料制成,具
涂層石墨管是在普通石墨管表面通過化學(xué)氣相沉積(CVD)、等離子噴涂等工藝涂覆一層耐高溫、耐腐蝕涂層(如熱解石墨、鉭、鋯、鉑等)的改性石墨制品,憑借耐高溫、抗腐蝕、低雜質(zhì)、高導(dǎo)熱等特性,成為分析檢測、材
光譜儀中心管是原子發(fā)射光譜儀(如電感耦合等離子體光譜儀,ICP-OES)中的關(guān)鍵部件之一,主要位于等離子體炬管的中心位置,承擔著樣品氣溶膠輸送的重要功能。中心管通常由高純度石英或耐高溫陶瓷材料制成,具
光譜儀中心管是原子發(fā)射光譜儀(如電感耦合等離子體光譜儀,ICP-OES)中的關(guān)鍵部件之一,主要位于等離子體炬管的中心位置,承擔著樣品氣溶膠輸送的重要功能。中心管通常由高純度石英或耐高溫陶瓷材料制成,具
你大概率是輸入時出現(xiàn)筆誤,想了解的是賽默飛iCAPQ校正液。這類校正液多適配其ICP-MS(電感耦合等離子體質(zhì)譜儀),不同類型校正液儲存條件略有差異,核心要求集中在溫度、密封、防污染等方面,具體如下:
垂直炬管是電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)中的關(guān)鍵部件,其設(shè)計獨特且功能顯著。采用垂直放置的設(shè)計,噴霧孔位于炬管的垂直方向,結(jié)構(gòu)緊湊且相對簡單。這種設(shè)計使得樣品在霧化后沿炬管中央垂直流動,
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