Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM ...
Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
無(wú)論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化MAPPING 參考價(jià)：面議
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x依靠光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，...
Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x借助光譜反射系統(tǒng)，可以測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，...
KLA光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
KLA光學(xué)輪廓儀KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技...
KLA 探針式臺(tái)階儀 參考價(jià)：面議
KLA 探針式臺(tái)階儀，KLA P-7 探針式臺(tái)階儀是KLA公司的探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之...
KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
KLA 白光共聚焦顯微鏡，KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術(shù)而來(lái)。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對(duì)大部分材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像分析，從光滑...
Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯(lián)合兩種功能強(qiáng)大的分析工具，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子...
KLA 納米壓痕儀 參考價(jià)：59
KLA 納米壓痕儀，KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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