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上海昊擴科學器材有限公司
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首頁 >> 資料下載 >> 薄膜無損檢測 相變溫度和熱膨脹系數(shù)-光功率熱分析儀（OPA）
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本儀器為無損檢測，并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數(shù)。OPA 的研發(fā)成功，一舉*補了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數(shù)的性技術空白， 能測量低至5nm的薄膜材料。本儀器擁有多項發(fā)明，具有獨立知識產(chǎn)權。
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