臺(tái)式火花直讀光譜儀 CMOS多元素分析儀

一、儀器概述

直讀光譜儀可分析鐵基體材料，能快速準(zhǔn)確定量分析，金屬材料質(zhì)量控制和科學(xué)研究的理想解決方案。

直讀光譜使用日本Hamamatsu公司CMOS信號(hào)采集元件，每個(gè)CMOS可以分別設(shè)置火花的數(shù)量。 它采用真空光室設(shè)計(jì)和全數(shù)字激發(fā)光源。該CMOS光譜儀不僅具有全光譜CCD光譜儀的特點(diǎn)，而且還具有PMT光譜儀的優(yōu)點(diǎn)，對(duì)非金屬元素具有很低的檢測(cè)限。 整機(jī)的設(shè)計(jì)合理。 它還具有操作簡(jiǎn)便，測(cè)試精度高，長(zhǎng)期穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)。

二、臺(tái)式火花直讀光譜儀 CMOS多元素分析儀 規(guī)格和技術(shù)參數(shù)

2.2 光學(xué)系統(tǒng)

帕型-龍格結(jié)構(gòu)的全譜光學(xué)系統(tǒng)

最大波長(zhǎng)范圍（140～680）nm

多個(gè)高性能CMOS探測(cè)器

一體化光學(xué)室加工成型，動(dòng)態(tài)羅檔園安裝，耐環(huán)境溫度變化

真空光室設(shè)計(jì)，保證C、S、P都能達(dá)到優(yōu)良性能。

光室恒溫控制，恒溫溫度為35℃；

直射式光學(xué)技術(shù)及透鏡MgF2材料，保證C、S、P紫外波長(zhǎng)的優(yōu)良能量。

2.3 樣品激發(fā)臺(tái)

集成氣路、噴射電極技術(shù)

優(yōu)化的氬氣氣路設(shè)計(jì)保證激發(fā)臺(tái)的有效冷卻和激發(fā)過(guò)程中產(chǎn)生的金屬粉塵有效進(jìn)入過(guò)濾器；使樣品激發(fā)更加穩(wěn)定，并大大減少了人體對(duì)金屬粉塵的攝入，有利于保護(hù)操作人員的健康安全；

更小的激發(fā)空間，使氬氣消耗更?。?/span>

便于使用的樣品夾具

具有電極自吹掃功能，使電極使用壽命更長(zhǎng)、清潔電極更加容易

13 mm的激發(fā)孔徑更利于樣品分析

開(kāi)放式樣品激發(fā)臺(tái)可適應(yīng)各種大小、更多形狀樣品的分析（含線材）；

單反式透鏡裝置設(shè)計(jì)，一般人員都能方便對(duì)激發(fā)臺(tái)進(jìn)行維護(hù)和透鏡的清洗

2.4 激發(fā)光源

全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源，最高頻率可達(dá)1000Hz；

高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS）；

優(yōu)化設(shè)計(jì)的控制和功率電路，完善的激發(fā)安全保護(hù)功能

為不同分析目標(biāo)提供優(yōu)良火花、電弧或組合激發(fā)波形

放電電流：最大400 A